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Il y a 1398 fournisseurs chinois de Microscope Électronique à Balayage,, environ 24% d'entre eux sont des fabricants / usines. Caractéristiques de la Société

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Préparation: Production d'un échantillon composite, incinération, traitement à l'acide, filtration d'une suspension sur un filtre nucléopore. Résultat quantitatif avec indication de la concentration d'amiante en pourcentage en masse. Limite de détection < 0, 008% Analyse par échantillon (n° de commande 124) 350, 00 € / 416, 50 € 129 Microanalyse à rayons X pour l'identification de matériel Valeur moyenne issue de 3 analyses individuelles, conformément à la norme DIN ISO 22309:2015-11, documentation photographique par point de mesure 120, 00 € / 142, 80 € unité pour d'autres points de mesure sur la même préparation (n° de commande 130) je 60, 00 € / 71, 40 € Génération d'images à l'aide de la microscopie électronique à balayage, MEB Les prix à payer dépendent de la qualité d'image/la résolution. À partir de 5 images par série d'échantillons, nous accordons une remise de 10%, à partir de 10 images, une remise de 15%. Transmission en format tif sans pertes ou comme fichier jpeg 125 Résolution standard 654 x 522 px / taille du fichier env.

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Le système Crossbeam allie les performances de l'imagerie et de l'analyse de la colonne électronique GEMINI avec la capacité FIB pour le traitement des matériaux et la préparation des échantillons à l'échelle nanoscopique. SKU: n/a La série ZEISS EVO combine la microscopie électronique haute définition et un flux de travail automatisé. Découvrez des améliorations substantielles de la productivité par le biais d'un flux de travail en 4 étapes. Simplifiez vos tâches d'imagerie de routine et bénéficiez de fonctions automatisées puissantes qui accélère le temps de prise d'image et simplifie la formation des utilisateurs, en particulier dans un environnement multi-utilisateur. Note 5. 00 sur 5 (1) Colonne Gemini. Basse Tension. Pression Variable. La famille GeminiSEM est synonyme d'imagerie sans effort: obtenez des images avec des résolutions sub-nanométriques et une efficacité de détection, même en mode pression variable. ZEISS GeminiSEM 500 combine la technologie éprouvée Gemini avec un nouveau design optique.

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Caractérisation de la matière L'imagerie électronique permet la mise en évidence de nombreuses caractéristiques telles que la morphologie, l'état de surface, les différences de compositions chimiques et de nombreux autres détails microscopiques sur tout types de matériaux à l'aide de notre équipement à pression variable. Nous observons donc les surfaces saines, polluées, avec défaut, sans défaut, facies de rupture, zones de corrosion pour une analyse détaillée des matériaux et des surfaces. Nos MEB (SEM en anglais) sont tous équipés d'une sonde élémentaire EDX permettant l'analyse chimique semi-quantitative des zones d'intérêts. Cette technique de détection physico-chimique permet la détection des éléments à partir du Berrylium, sur tous les éléments du tableau de Mendeleiev, et sur tout type de matériaux (minéral, organique, métallique). Nos moyens techniques permettent des analyses point par point, en profil ou par cartographie élémentaire.

July 5, 2024